afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um） 涂層：懸臂探測器側有鋁反射涂層，30 nm 厚

spm掃描探針技術參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um）

spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內(nèi)部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。

納米掃描探針顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。

低溫掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內(nèi)部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。